亚洲中文字幕伊人久久无码-国产69精品久久久久99尤物-国产午夜亚洲精品国产成人小说-无码任你躁久久久久久老妇-999久久久国产精品

產品中心

PRODUCT CENTER
您的位置:首頁 > 產品中心 > PCB儀器裝備  >  菲希爾測厚儀  >  X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD

X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD

描述:品牌:菲希爾樣品電大高度:140mmX/Y軸平臺移動速度:60mm/s

  • 01/

    產品型號:
  • 02/

    廠商性質:生產廠家
  • 03/

    更新時間:2023-10-18
  • 04/

    訪問量:1180
詳細內容/ Product Details
  X-RAY XDV-SDD是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺,是全自動測量樣品的理想設備。

1.分析超薄鍍層,如:厚度≤0.1umAuPa鍍層;

2.印刷線路板上RoHsWEEE要求的痕量分析;

3.黃金成分分析

4.測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層;

5.分析復雜的多鍍層系統;

6.全自動測量,如:用于質量控制領域。

留言詢價/ Message inquiry

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7